激光半導(dǎo)體特性測(cè)試機(jī)的主要特點(diǎn)

激光二極管有一大部分的應(yīng)用于光通訊與電信工業(yè)的范疇內(nèi)，如光收發(fā)器(Transceiver) 等產(chǎn)品在組裝前若能了解每顆激光二極管的特性或與直接測(cè)試光纖的耦合后的特性，能減低產(chǎn)品的失敗率。Chroma 58620測(cè)試系統(tǒng)中含有自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)(Auto alignment)，可搭配不同種類的光纖與Focuser進(jìn)行激光光大功率點(diǎn)耦合并測(cè)試，當(dāng)激光光達(dá)一定程度的耦合效率時(shí)，系統(tǒng)搭配光譜分析儀(OSA) 進(jìn)行分析了解激光二極管共振膜態(tài)，主次模比(Side Mode Suppression Ration) 以及波長(zhǎng)分析(Peek wavelength) 等；此外，利用光學(xué)輔助定位的原理(AOI) 使得Focuser快速達(dá)到激光發(fā)光區(qū)(Emission Region) 并進(jìn)行搜尋大發(fā)射功率點(diǎn)可加速測(cè)試，大幅減低光纖耦合調(diào)校時(shí)間與測(cè)試人力。